渦流涂鍍層測厚儀的理論

渦流涂鍍層測厚儀的理論

1. 基本原理

渦流涂鍍層測厚儀的基本工作原理是,當測頭與被測式樣接觸時(shí),測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng),

使置于測頭下的金屬導體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數.

即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì )改變測頭參數,而測頭參數變量的大小,并將這一電信號轉換處

理,即可得到被測涂鍍層的厚度.

2. 影響測量精度的原因

(1) 覆蓋層厚度大于25祄時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

(2) 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);

(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測量才不會(huì )受基體

金屬厚度的影響;

(4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.

(5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;

(7) 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感.因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物;測量時(shí)應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.

發(fā)布人：2008/6/26 9:15:002695 發(fā)布時(shí)間：2008/6/26 9:15:00 此新聞已被瀏覽:2695次

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